Facilities & ナノテクプラットフォーム of Seki Laboratory

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 当研究室では、光応答性や液晶性を持つ高分子、高分子ゲルなどのソフトマテリアル材料を分子設計ならびに合成し、配向・配列などの組織制御から、構造および物性評価まで、材料研究に必要なプロセスを一貫して行っています。原子移動ラジカル重合や解環メタセシス重合を用いたブロックコポリマー合成や高分子グラフト膜の調製、ゾルゲル法によるナノ多孔膜の配向、X線散乱による薄膜構造解析にも力を入れております。これら材料の分子配向操作は、機械的な配向の他、配向膜による界面配向制御や偏光照射による液晶の光配向など様々な手法を検討しています。
 下記に挙げる装置の他、グローブボックスや有機合成装置なども所有し、ソフトマテリアル研究の実験環境が充実しております。

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当研究室は、「ナノテクノロジー・プラットフォーム」物質・材料合成支援に参画しております。

「高分子ナノ薄膜形成による組織化されたソフトマテリアル、光の精密利用材料や次世代エネルギー再生・備蓄を目指した分子物質合成支援」に関して、下記の様々な装置郡を用い、大学・企業の方々の材料開発に技術支援を行います。是非、ご利用下さい。まずは、ご相談から。

  1. ナノ構造体および高分子薄膜材料の合成支援(液晶性高分子、ブロックコポリマー、高分子グラフトフィルム、メソポーラスシリカ・チタニア等)
  2. 高分子ナノ薄膜表面構造解析システム:ナノ薄膜の膜厚測定、表面形状測定
  3. 高分子ナノ薄膜内部構造評価:小角および広角斜入射X線散乱測定、偏光吸収スペクトル測定(UV-vis, IR)、電子顕微鏡等による断面観察(断面作製も含む)
  4. 高分子ナノ薄膜作製技術支援:高分子単分子膜、高分子超薄膜、液晶性高分子、メソポーラス膜の配列・配向および光配向技術支援

技術資料:
1. 小角斜入射X線散乱測定LinkIconGI-SAXS
2. 広角斜入射X線散乱測定LinkIconGI-WAXS

連絡先: snagano@apchem.nagoya-u.ac.jp

合成関連

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グローブボックス
禁水系および不活性ガス下の反応や成膜に用いる。
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合成装置(東京理科ケミステーション)
2台所有。一度に精密な温度条件にて合成ができる。耐圧チューブ(オートクレーブ)との組み合わせにより、ラジカル重合、リビングラジカル重合など簡便に行える。

プローブ顕微鏡

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Asylum MFP-3D Atomic Force Microscope
様々な用途に適応するAFM
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Seiko Instruments Inc. SPA400/SPI3800 Atomic Force Microscope
液中測定、など
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Seiko Instruments Inc. SPA300HV/SPI4000 Atomic Force Microscope (NanoNavi)
真空下加熱・冷却等環境制御タイプのAFM、VE-AFMモードも可能
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Seiko Instruments Inc. Nanopics 2100 Atomic Force Microscope
大面積(50 μm□以上)を測定可能、主に有機薄膜の膜厚測定や物質移動研究のパターン解析に用いる。

(このほかFE-SEM、TEMの試料作製、測定も行っている。技術支援も可能。)

X線散乱測定

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Rigaku FR-E/RAXIS-IV X-ray Scattering System (名古屋大学超強力X線回折実験室)
主に透過法の散乱実験に用いる。液晶構造レベルの小角測定もできる。X線源の輝度が高く、薄膜材料の斜入射にもカスタマイズ可能。
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Rigaku NanoViewer X-ray Scattering System (名古屋大学超強力X線回折実験室)
ラボスケールの小角散乱散乱装置。斜入射測定も可能であり、ブロック共重合体薄膜の構造解析に用いる。

分光器

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Agilent 8453 UV-vis Spectrometer
三台所有。ダイオードアレイ型の分光器、加熱測定や偏光吸収スペクトルの測定もカスタマイズ可能。
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Bio-Rad (Agilent) FTS-6000 IR Spectrometer
Varian (Agilent) 640-IRIR Spectrometer
様々なモード(RAS, ATR, 拡散反射等)の測定が可能
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JASCO FP-8500 Spectrofluorometer
溶液、薄膜の測定が可能。偏光アタッチメントもあり。
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JASCO MAC-1 High Sensitive UV-vis Spectrometer
単分子膜レベルの吸収を測定できる。偏光吸収スペクトルも可能。
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Ohtsuka Electronics MCPD-2000/MC-2530 UV-vis Spectrometer
ファイバータイプの分光器。単分子膜レベルの吸収を測定でき、メトラーホットステージやLangmuirトラフと組み合わせて、様々な測定が可能。
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Ocean Optics QE6500/DH-2000-BAL UV-vis Spectrometer
ファイバータイプの分光器。単分子膜レベルの吸収を測定でき、メトラーホットステージやLangmuirトラフと組み合わせて、様々な測定が可能。

製膜・光照射装置群

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Lauda FW-1 Film Balance Langmuir trough withFilgen, Inc NL-EMM633 Brewster angle microscope
2台所有。かなり古い装置ではあるが、Langmuirタイプの表面圧計が装備されており安定した高分子単分子膜の調製が可能、BAMの観察も行える。
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SIJ Technology FW-1 Super Fine Inkjet System
微細加工も行えるインクジェット装置。可能性を模索中。
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San-Ei Electric UVF-203S/UVF-204S
ポータブルタイプの露光装置。落射型(均一照射)およびファイバータイプを多数所有。当研究室にて行う、波長313・365・436 nmを用いた光化学反応では、十分な強度がある。
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Asahi Spectra REX-250
2台所有。ハイパワーのファイバー型露光装置。バンドパスフィルターとNDフィルターが内蔵され、均一照射可能なロッドレンズを装備。

(スピンキャストももちろん行えます。不活性ガス下のスピンキャスト可能。)

熱分析・偏光顕微鏡観察

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TA instruments Q200/RCS
Modulated DSCや光照射DSCが可能。-90〜500℃。
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Seiko Instruments Inc. TG-DTA 6200
普通のTG/DTA。
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Olympus BX-51(Polarized optical microscope with hot stage & Fluorescence microscope)/Mettler FP90/FP92
液晶テクスチャーはもちろん、コマンドサーフェス観察等にも便利。


Department of Molecular &
Macromolecular Cheimstry
Graduate School of Engineering
Nagoya University