これまでの研究成果（3）

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らせん高分子の原子間力顕微鏡（AFM）による直接観察

　らせん構造およびその向きの決定は、らせん高分子研究にとって最も基本的かつ重要な研究課題であるが、それを可能にする手法はこれまでになかった。最近、液晶性を示す剛直ならせん高分子を有機溶媒の飽和雰囲気下、固体基板上にキャストすると、階層的な自己組織化をへて2次元結晶が形成され、らせんのピッチやらせんの向き・片寄り等をAFMを用いて直接観察できることが分かった（16―18）。本手法とX線構造解析（XRD）を組み合わせることによって、これまで不明であった多くのらせん高分子のらせん構造を初めて分子レベルで解明できた。

らせん構造の直接観察
図３.らせん構造のAFMによる直接観察：17ではらせん反転（黄色）も見える

代表的論文

    • J. Kumaki, E. Yashima, G. Bollot, J. Mareda, S. Litvinchuk, and S. Matile, Angew. Chem., Int. Ed., 44, 6154-6157 (2005).
    • S.-i. Sakurai, K. Okoshi, J. Kumaki, and E. Yashima, Angew. Chem., Int. Ed., 45, 1245-1248 (2006).
    • S.-i. Sakurai, K. Okoshi, J. Kumaki, and E. Yashima, J. Am. Chem. Soc., 128, 5650-5651 (2006).
    • K. Okoshi, S.-i. Sakurai, S. Ohsawa, J. Kumaki, and E. Yashima, Angew. Chem., Int. Ed., 45, 8173-8176 (2006).
    • S. Ohsawa, S.-i. Sakurai, K. Nagai, M. Banno, K. Maeda, J. Kumaki, and E. Yashima, J. Am. Chem. Soc., 133, 108-114 (2011).
    • S.-i. Sakurai, S. Ohsawa, K. Nagai, K. Okoshi, J. Kumaki, and E. Yashima, Angew. Chem., Int. Ed., 46, 7605-7608 (2007).
    • T. Kajitani, K. Okoshi, S. Sakurai, and E. Yashima, J. Am. Chem. Soc., 128, 708-709 (2006).
    • H. Onouchi, K. Okoshi, T. Kajitani, S.-i. Sakurai, K. Nagai, K. Onitsuka, and E. Yashima, J. Am. Chem. Soc., 130, 229-236 (2008). Highlighted by SYNFACTS, No. 4, 0371 (2008).
    • Z.-Q. Wu, K. Nagai, M. Banno, K. Okoshi, K. Onitsuka, and E. Yashima, J. Am. Chem. Soc., 131, 6708-6718 (2009).

その他の研究成果