研究室・設備
Characterization 【形態観察】
走査型電子顕微鏡(SEM)/エネルギー分散型X線分析装置(EDX)JEOL【JSM-6060S/JED-2300】
走査型透過電子顕微鏡(STEM)/EDXJEOL【JEM-1400Plus/JED-2300】
ナノサーチ顕微鏡(LSM-SPM)Shimadzu【SFT-4500】
光学顕微鏡OLYMPUS【OLS45-NSH-J1】
卓上走査型電子顕微鏡(卓上SEM)/エネルギー分散型X線分析装置(EDX)Phenom-World BV【Phenom ProX】