研究室・設備

示差熱重量分析装置（TG-DTA）
RIGAKU【Thermo plus EVO/TG 8120】

示差走査熱量測定装置（DSC; -130～700 ℃）
RIGAKU【DSC 8230】

示差走査熱量測定装置（DSC; -90～550 ℃）
TA Instruments【Q200】

X線回折装置（XRD）
Malvern Panalytical【Aeris】

フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）
Shimadzu【IR Tracer-100】

顕微ラマン分光装置
HORIBA【XploRA】

マイクロ波プラズマ原子発光分光分析装置（MP-AES）
Agilent【4210】

四重極質量分析装置（MS）
Microtrac BEL【BELMASS】

触媒分析装置
Microtrac BEL【BELCAT II】